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意大利 ISS 快速熒光壽命成像系統(tǒng) FastFLIM Q2技術參數

更新時間:2023-05-09   點擊次數:534次

 

激光共焦多維成像系統(tǒng):FLIM / FCS 時間分辨的空間分辨顯微系統(tǒng):ISS 推出新一代的快速熒光壽命成像系統(tǒng)FLIM/PLIM。成像速度可達 20 fps 256×256),自由選擇1×1到4096×4096像元分辨率;同時獲取熒光壽命成像和共焦強度成像數據,保持單分子級的檢測靈敏度。用于化學、納米、能源、生物等學科方向,單分子、活細胞、微區(qū)成像及形貌、能級結構和能量傳遞特征的機理研究。滿足上轉換量子點及相關材料的壽命成像測試ISS以整機的熒光壽命成像系統(tǒng)為己任,實現共焦三維掃描模塊(針孔,二維振鏡、壓電臺或自動工作臺)和時間分辨模塊的結合,提供<100ps-100ms的全時域熒光壽命檢測;同時軟件融合Phasor Plots熒光壽命直讀半圓規(guī)的矢量圖技術,可視化、直觀的提供熒光壽命分布及數值。

熒光壽命成像數據分析進入直讀時代。ISS 激光共焦掃描熒光壽命成像系統(tǒng),還可以同時滿足以下特殊需要:1. 雙光子的熒光壽命 FLIM/PLIM 成像;2. 深紫外激發(fā)的熒光壽命 FLIM / PLIM 成像;3. 紅二區(qū)熒光壽命 FLIM /PLIM 成像;4. 激光掃描大視場活體成像 FLIM /PLIM ;5. 光譜采集及光譜成像;6. AFM聯用--活細胞工作站聯用--冷凍及加熱工作臺聯用;7. 納米顆粒三維跟蹤;(專有技術)

主要功能描述:(可以選擇雙光子功能)激光共焦熒光強度成像LCM;熒光壽命成像FLIM,磷光壽命成像PLIM;上轉換熒光(壽命)成像,稀土發(fā)光(壽命)成像,延遲熒光(壽命)成像;熒光波動成像FFS(FCS,FCCS, PCH,N&B, RICS, FLCS,scan-FCS),FLIM-FRET成像;熒光定量成像;單量子點發(fā)光(壽命)成像,單分子及單分子熒光共振轉移成像smFRET,包括交替激發(fā)PIE成像;穩(wěn)態(tài)及瞬態(tài)偏振成像;微區(qū)熒光光譜采集 400-1100nm;反聚束測試(含專業(yè)軟件);活細胞工作站升級(含多孔板)儀器特點:實時直讀式獲得熒光壽命數值及變化趨勢,FRET效率分布;選擇350nm-1100nm加上900nm-1700nm波長范圍檢測器,2-4通道檢測器,用于成像,FLIM-FRET;可以升級無波長干擾AFM(正置或倒置),實現同區(qū)域形貌和FLIM同步測試;紫外-可見-紅外激發(fā)波長,單波長或超連續(xù)激光器;單光子或雙光子的激光器;

主要技術指標1. 熒光壽命測試范圍:100ps-100ms;2. 最小時間分辨率≤1ps;3. 數據計數速率:65 MHz/channel4. 檢測通道:upto 8 channels;5. 標配xy振鏡掃描,5kHz掃描頻率,配合xy閉環(huán)自動臺實現大區(qū)域掃描;6. Phasor plots 用于數據分析;7. 光譜采集;400-1100nm8. 掃描透射成像;9. 界面聚焦系統(tǒng);10. 變溫附件;77k-500k;

 

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